logo
E-väljaanne
TÄISTEKST TTÜ raamatukogu digikogus http://digi.lib.ttu.ee/i/?615
Autor
Kruus, Helena, 1979-2014
Pealkiri
Optimization of built-in self-test in digital systems = Sisseehitatud enesetestimise optimeerimine digitaalsüsteemides / Helena Kruus
Ilmumisandmed
Tallinn : Tallinn University of Technology Press, 2011
Füüsiline kirjeldus
161 lk. : ill. ; 25 cm
Seeria pealkiri
Theses of Tallinn University of Technology. C, Thesis on informatics and system engineering = [Tallinna Tehnikaülikooli väitekirjad]. C, Informaatika ja süsteemitehnika, ISSN 1406-4731 ; 66
Tallinna Tehnikaülikooli väitekirjad. C, ISSN 1406-4731 ; 66
ISBN
9789949231492
9789949231508 (pdf)
Märkus
Doktoritöö: Tallinna Tehnikaülikool, 2011
Autori publikatsioonid lk. 151-152, lk. 155-156. - Bibliograafia lk. 138-149
Kokkuvõte eesti keeles
Täiendav kandja
Kättesaadav ka võrguteavikuna
Märksõnad
digitaalintegraallülitused; VLSI-ahelad; testimine; diagnostika (tehn.); manussüsteemid; optimeerimine; dissertatsioonid
Kollektiivautorid
Tallinna Tehnikaülikool
UDK
621.382.049.771.15.037.372 (043)
Rööppealkiri
Sisseehitatud enesetestimise optimeerimine digitaalsüsteemides