logo
E-väljaanne
TÄISTEKST TTÜ raamatukogu digikogus http://digi.lib.ttu.ee/i/?513
Autor
Rannaste, Anna, 1981-
Pealkiri
Hierarchical test pattern generation and untestability indentification techniques for synchronous sequential circuits = Hierarhilised testintegreerimise ja mittetestitavuse identifitseerimise meetodid sünkroonsetele järjestikskeemidele / Anna Rannaste
Ilmumisandmed
Tallinn : Tallinn University of Technology Press, 2010 ([Tallinn : Infotrükk])
Füüsiline kirjeldus
128 lk. : ill. ; 25 cm
Seeria pealkiri
Theses of Tallinn University of Technology. C, Thesis on informatics and system engineering = [Tallinna Tehnikaülikooli väitekirjad]. C, Informaatika ja süsteemitehnika, ISSN 1406-4731 ; 58
Tallinna Tehnikaülikooli väitekirjad. C, ISSN 1406-4731 ; 58
ISBN
9789949230419
Märkus
Doktoritöö: Tallinna Tehnikaülikool, 2010
Autori publikatsioonid lk. 17. - Bibliograafia lk. 111-114
Kokkuvõte eesti keeles
Täiendav kandja
Kättesaadav ka võrguteavikuna
Märksõnad
digitaalintegraallülitused; testimine; dissertatsioonid
Kollektiivautorid
Tallinna Tehnikaülikool
UDK
621.382.049.77.037.372 (043)
Rööppealkiri
Hierarhilised testintegreerimise ja mittetestitavuse identifitseerimise meetodid sünkroonsetele järjestikskeemidele