- Autor
- Raik, Jaan, 1972-
- Pealkiri
- Hierarchical test generation for digital circuits represented by decision diagrams / Jaan Raik ; [supervisor: Raimund Ubar]
- Ilmumisandmed
- Tallinn : Tallinn Technical University Press, 2001 ([Tallinn] : Infotrükk)
- Füüsiline kirjeldus
- 108, [15] lk. : ill. ; 25 cm
- Seeria pealkiri
- Theses of Tallinn Technical University. C, Thesis on informatics and system engineering, ISSN 1406-4731 ; 8
- Tallinna Tehnikaülikooli väitekirjad. C ; 8
- ISBN
- 9985592492
- Märkus
- Doktoritöö : Tallinna Tehnikaülikool, 2001
Autori publikatsioonid lk.[9-15]. - Bibliograafia lk. 103-108 - Märksõnad
- digitaalelektroonika; mikroelektroonika; digitaalintegraallülitused; kvaliteeditestid; otsustusteooria; algoritmid; testid; dissertatsioonid; otsustusdiagrammid
- Teised autorid
- Ubar, Raimund, 1941-, juhendaja
- Kollektiivautorid
- Tallinna Tehnikaülikool
- UDK
- 621.382.049.77.037.372 (043)
Rahvusbibliograafia
RB väljaanded
