logo
Autor
Raik, Jaan, 1972-
Pealkiri
Hierarchical test generation for digital circuits represented by decision diagrams / Jaan Raik ; [supervisor: Raimund Ubar]
Ilmumisandmed
Tallinn : Tallinn Technical University Press, 2001 ([Tallinn] : Infotrükk)
Füüsiline kirjeldus
108, [15] lk. : ill. ; 25 cm
Seeria pealkiri
Theses of Tallinn Technical University. C, Thesis on informatics and system engineering, ISSN 1406-4731 ; 8
Tallinna Tehnikaülikooli väitekirjad. C ; 8
ISBN
9985592492
Märkus
Doktoritöö : Tallinna Tehnikaülikool, 2001
Autori publikatsioonid lk.[9-15]. - Bibliograafia lk. 103-108
Märksõnad
digitaalelektroonika; mikroelektroonika; digitaalintegraallülitused; kvaliteeditestid; otsustusteooria; algoritmid; testid; dissertatsioonid; otsustusdiagrammid
Teised autorid
Ubar, Raimund, 1941-, juhendaja
Kollektiivautorid
Tallinna Tehnikaülikool
UDK
621.382.049.77.037.372 (043)