E-ressursid
TÄISTEKST http://hdl.handle.net/10062/18095
- Autor
- Rammula, Raul, 1981-
- Pealkiri
- Atomic layer deposition of HfO2 – nucleation, growth and structure development of thin films / Raul Rammula
- Ilmumisandmed
- Tartu : Tartu University Press, 2011 (Tartu : Tartu Ülikooli Kirjastuse trükikoda)
- Füüsiline kirjeldus
- 147, [1] lk. : ill. ; 25 cm
- Seeria pealkiri
- Dissertationes physicae Universitatis Tartuensis, ISSN 1406–0647 ; 78
- ISBN
- 9789949197798
9789949197804 (pdf) - Märkus
- Võrguväljaandes puuduvad trükises toodud väitekirja teemal avaldatud publikatsioonide täistekstid
Doktoritöö: Tartu Ülikool, 2011
Autori publikatsioonid lk. 7-8. - Bibliograafia lk. 77-87
Kokkuvõte eesti keeles - Täiendav kandja
- Kättesaadav ka võrguteavikuna
- Märksõnad
- hafniumiühendid; oksiidid; aatomkihtsadestamine; õhukesed kiled; füüsikalised omadused; nukleatsioon; dissertatsioonid
- Kollektiivautorid
- Tartu Ülikool
Eesti üliõpilaste teadustööde riiklik konkurss (2011)
- UDK
- 539.216 (043)
548.5 (043)
Koostatud nimestikud
RB väljaanded
Rahvusbibliograafia



